如圖所示為“雙稜鏡干涉”實驗裝置,其中S為單*光源,A為一個頂角略小於180°的等腰三角形稜鏡,P為光屏.S位...

來源:國語幫 1.58W

問題詳情:

如圖所示為“雙稜鏡干涉”實驗裝置,其中S為單*光源,A為一個頂角略小於180°的等腰三角形稜鏡,P為光屏.S位於稜鏡對稱軸上,屏與稜鏡底邊平行.調節光路,可在光屏上觀察到干涉條紋.這是由於光源S發出的光經稜鏡作用後,相當於在沒有稜鏡時,兩個分別位於圖S1和S2位置的相干光源所發出的光的疊加.(S1和S2的連線與稜鏡底邊平行)已知S1和S2的位置可由其他實驗方法確定,類比“雙縫干涉測波長”的實驗,可以推測出若要利用“雙稜鏡干涉”測量光源S發出的單*光的波長時,需要測量的物理量是                                                                       、          和   

如圖所示為“雙稜鏡干涉”實驗裝置,其中S為單*光源,A為一個頂角略小於180°的等腰三角形稜鏡,P為光屏.S位...                                                                                                       

                                                                                                                                       

【回答】

S1與S2間的距離;S1(或S2)與光屏間的距離;干涉條紋間距.

知識點:專題十三 中學物理實驗

題型:實驗,探究題

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