用折*率造句子，“折*率”造句

本文介紹一種折*率測定方法，它是利用稜鏡耦合反*裝置測定全反*角來確定折*率的

標籤PbTiO3無定形薄膜折*率禁帶寬度。

梯度折*率球透鏡是一種折*率以球心為對稱中心，並沿球半徑方向分佈的球型光學元件

介紹了光子晶體光纖的等效折*率模型.

晶體厚度和折*率的變化導致衰減全反*（ATR）譜的同步角發生移動，進而引起反*率的變化。

本文提出了掠入*法測定透明介質折*率的一種改進方法。

文章還簡要分析了波長、橢圓率和相對折*率差時傳播常數的影響。

儀器測試，通常是通過偏光儀來測試它的結構晶體，通過折*儀來測試它的折*率。

光從光密介質(折*率大)*向光疏介質,臨接口發生全反*的原理是初中課本中都有內容。

本發明公開了一種光纖，其中包層的折*率沿徑向向外增加。

文章基於光擦除折*率光柵和雙光束耦合提出了一種新的光折變非線*光學模型。

給出了一種利用透鏡的球面反*像測量薄透鏡的材料折*率的方法

一百零如果摻雜劑的分子體積大、分子折*率高，則GIPOF預製棒的瑞利散*損耗大，但熱穩定*能高。

用低折*率的含*共聚物為光致聚合物全息材料的成膜物，以增加全息記錄材料折*率的空間可調製程度

本文主要討論由上述因素引起的入*角、折*率、楔形度、厚度與曲率半徑的比值對光學角偏差的影響，以利於生產工藝的控制。

相對該方法的隨機誤差10（-5），無論線偏振器位於反*光路或入*光路中，由它產生的折*率測量誤差均可忽略不計。

結果表明：組成一維二元光子晶體的折*率、厚度、層數、入*角、光源的偏振態等都對透*特*有影響。

在測量非線*折*率和雙光子吸收係數的頻率分辨雙光束耦合抽運探測技術中，光場的空間分佈沒有得到考慮

由於晶體的折*率主軸與其晶體物理主軸有著不同的配對方式，其三階有效非線*係數計算公式將發生變化

實驗結果初步説明，通過太赫茲波段的吸收譜和折*率的特徵差異與種類之間的關係判斷和田玉的種類是可行的，為無損和田玉種類鑑別提供一種新型的方法。

他們將負折*率材料和正折*率材料級聯起來成功實現了零折*率行為的納米結構。

折*率為nf的平面薄膜夾在折*率較低的襯底和覆蓋層之間.

折*率n在波導截面內是逐漸變化的。

其中，第一液晶材料層的雙折*率約略等於第二液晶材料層的雙折*率的一半。

因為散*的原因，寶石對不同波長的光有不同的折*率

另外，磁處理水對單*光的折*率和吸收率隨着入*光的頻率不同而改變。

測試玻璃的密度、折*率、阿貝數和紫外到紅外波段的透過率等物化*質，研究密度和折*率與組成的關係及影響阿貝數、透過率大小的因素。

研究了含有負折*率缺陷的光子晶體中的局域缺陷模

實驗歸納了支化聚*基苯基硅*薄膜的光折變規律，獲得了控制薄膜厚度和折*率的定量條件。

提出一種利用全反*原理，精確測量生物組織以及一般均勻介質折*率的方法。

由於熔接型側面耦合器無須折*率匹配介質，因此能夠承受很高的抽運光功率密度。

在此基礎上，深入研究了用預抽氣真空腔測量與補償空氣折*率的測量大批量方法和裝置

首先根據帶輸運模型的動力學方程組，討論了光折變晶體中光致空間電荷場的建立以及由此而產生的折*率變化。

“全自動納米多孔氧化硅薄膜折*率和厚度測定系統”採用的測量方法是光的反*法，在選用氦氖激光作為、入*光源時，考慮到氦氖激光的單**不會因為經過分束鏡後發生變化；

……光以一個角度觸及水，然後改變其路徑。可以從因果關係的角度解釋：因為空氣與水的折*率不同，所以光改變了路徑。 這是人類看待世界的方法。如果換一個角度看這個問題：光之所以改變路徑，是為了最大限度減少它抵達目的所耗費的時間。……

一百折*率為nf的平面薄膜夾在折*率較低的襯底和覆蓋層之間。

這可能是由於碳*鈣晶體具有兩種折*率——折*率會限定某種物質聚焦入*光線的範圍。

目的探索平板玻璃受熱後折*率的變化規律。

物質的折*率由兩項*質決定，分別是介電常數和磁導率。

中文摘要一般的波導元件，由於必需滿足全反*的要求，所以中心核的折*率要比包覆層的折*率大。

應用於空氣折*率梯度對激光準直的影響和不均勻泵浦引起的激光器附加衍*損耗。

本文用適當的多項式函數近似擴散光波導的高斯折*率分佈函數，推導了導模有效折*率的解析形式漸近解。

由正折*率材料製作的光學元件受到繞*極限的鉗制，所能解析的細節尺寸，必須大於或等於反*自物體的光波長。

SKA-PL-888M是一款用於粘接平面顯示器面板（防眩玻璃、塑料、觸摸屏）的液態光學膠，具有低收縮率和高折*率的優點。

本文指明尼科爾稜中非常光的折*率一般指法線折*率，並給出計算這一折*率的方法。

含鉛氧化物的玻璃，折*率高。

本文提出了掠入*法測定透明介質折*率的一種改進方法www

討論了離心距對縱向輻*力的影響，也討論了束腰半徑、介質折*率和波長對縱向輻*力的影響。

如果摻雜劑的分子體積大分子折*率高，則GIPOF預製棒的瑞利散*損耗大，但熱穩定*能高

發現在光漂白全過程中，聚合物薄膜的折*率和厚度的變化同時存在化學和物理兩種變化過程

請利用一個激光筆發明並製造一個做的光學儀器，使其可以不接觸地測量一個玻璃片的厚度、折*率以及其他屬*。

運用折*率橢球分析晶體的*光效應。

因為散*的原因，寶石對不同波長的光有不同的折*率。

不軟塑不不不平面平柵片折*率矮，具有精良的平華

研究表明：纖維皮芯層折*率差異對笛卡兒線出*角的影響，大於纖維皮層厚度變化對纖維笛卡兒線出*角的影響。

折*率為nf的平面薄膜夾在折*率較低的襯底和覆蓋層之間

不同的化學品有不同的折*率。在化學合成後常用折*計測定樣品的折*率以確定它的純度或者間接地審查化學合成是否成功。

使用自制的三稜容器，採用折*極限法，從理論推理出測量用三稜容器頂角和極限角的範圍，並用分光計進行精密測量，進而獲得固體和液體折*率

用自準直方法測量了*洲石晶體的主折*率並計算出了折*率温度係數。

通過對高折*率玻璃微珠在激光照明下形成的二次*虹的實驗研究，提出了一種激光照明下高折*率玻璃微珠二次*虹條紋圖的獲取裝置。

用塞拿蒙補償器測定固化樹脂的雙折*率。

以聚*基*烯**酯為芯皮層原料苯硫醚為摻雜劑製備了GIPOF，並通過聚焦法測得光纖折*率分佈

結果表明，有效折*率法有方法簡明、結論確切的優點。

應用數字全息干涉術測量了光寫入光折變通道波導的折*率分佈以及懸臂鋼板表面的離面位移分佈，取得了較為滿意的結果。