用四探針法造句子，“四探針法”造句

測量電阻率的四探針法公式中，要求是點接觸而且探針的排列有一定的形狀。

GB/T14141-1993硅處延層、擴散層和離子注入層薄層電阻的測定直排四探針法

採用排水法測試試樣密度，利用SEM和EDX分析微觀結構和元素組成，採用四探針法測量電阻率。

本論文依據四探針法的基本原理並結合雙脈衝技術，設計並製造適用於薄膜温差電材料的電阻率測試系統。

四探針法用在非常薄的樣品，例如外延晶圓片和導電塗層上。