用光電子能譜儀造句子，“光電子能譜儀”造句

用X*線光電子能譜儀(XPS)研究了仿製的銅紅袖的着*機理。

用掃描電子顯微鏡(sem)和X*線光電子能譜儀(XPS)對鋼球磨損表面進行了分析。

採用掃描電子顯微鏡（SEM）、X*線光電子能譜儀（XPS）、傅立葉紅外光譜儀（IR）對盤上磨痕進行表面分析。

藉助於化學分析光電子能譜儀、紅外和傅里葉變換紅外光譜儀探查了單板表面化學結構的變化。

使用時間飛行二次離子質譜儀(TOF-S IM S)、X*線光電子能譜儀(XPS)、原子力顯微鏡(AFM)和接觸角測量儀對FTE自組裝膜進行了表徵。

採用掃描電子顯微鏡(sem)、X*線光電子能譜儀(XPS)、傅立葉紅外光譜儀(IR)對盤上磨痕進行表面分析。

並採用掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡和X*線光電子能譜儀分析了薄膜的形貌和組成。

探測效率是X*線光電子能譜儀一個很重要的儀器參數。

薄膜的鍵結構採用X*線光電子能譜儀（XPS）分析，納米結構採用高分辨率透*電子顯微鏡（HRTEM）分析。

用X-*線光電子能譜儀分析了腐蝕銀片表面的腐蝕產物。

採用X*線衍*法（XRD）、掃描電子顯微鏡（SEM）和X*線光電子能譜儀（XPS）對薄膜進行了表徵與分析。